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芯片檢測(cè)效率低下?格物優(yōu)信顯微熱成像儀毫秒級(jí)定位缺陷

更新時(shí)間:2025-11-07      點(diǎn)擊次數(shù):282

 

芯片檢測(cè)效率低下?格物優(yōu)信顯微熱成像儀毫秒級(jí)定位缺陷

 

 

在全球半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)高速發(fā)展的浪潮中,芯片制造的精度與效率已成為決定行業(yè)競(jìng)爭(zhēng)力的核心要素。作為精密工業(yè),芯片制造在檢測(cè)環(huán)節(jié)面臨著納米級(jí)缺陷捕捉的嚴(yán)峻挑戰(zhàn):傳統(tǒng)檢測(cè)手段在速度、精度與實(shí)時(shí)性上的短板,嚴(yán)重制約了芯片的良率與量產(chǎn)效率。在此背景下,格物優(yōu)信顯微熱成像儀X 1280系列、X640系列技術(shù)突破,憑借毫秒級(jí)響應(yīng)速度,針對(duì)芯片進(jìn)行微米級(jí)缺陷檢測(cè)的硬核實(shí)力,為芯片制造行業(yè)注入全新動(dòng)能。

 

傳統(tǒng)光學(xué)檢測(cè)技術(shù)因受限于光學(xué)衍射極限,難以突破微米級(jí)缺陷識(shí)別屏障,而電子顯微鏡雖具備亞納米級(jí)精度,卻因檢測(cè)速度緩慢且需破壞性取樣,陷入精度與速度不可兼得"的困境;與此同時(shí),芯片微小結(jié)構(gòu)的熱分布異常常引發(fā)熱失控失效,但傳統(tǒng)紅外熱像儀受制于空間分辨率不足,始終無法精準(zhǔn)定位微觀熱缺陷;更凸顯矛盾的是,依賴人工復(fù)檢的冗長(zhǎng)流程嚴(yán)重拖累檢測(cè)效率,加之檢測(cè)設(shè)備的天價(jià)投入持續(xù)擠壓企業(yè)利潤空間,形成了高成本、低效率、高風(fēng)險(xiǎn)"的惡性循環(huán),成為制約行業(yè)突破的技術(shù)枷鎖。

實(shí)物圖 

可見光相機(jī)拍攝芯片核心部件電容2mm*3mm

 

格物優(yōu)信顯微熱像儀X 1280系列、X640系列通過顯微鏡頭與高靈敏度紅外探測(cè)器,最高可達(dá)到130萬紅外像素點(diǎn)纖毫畢現(xiàn),即使是小到3微米的物體也能實(shí)現(xiàn)高清熱成像測(cè)溫,可清晰捕捉芯片內(nèi)部導(dǎo)線、焊點(diǎn)的微觀熱分布支持每秒最高125Hz的高速熱成像,實(shí)時(shí)追蹤芯片通電、運(yùn)行時(shí)的瞬態(tài)溫度變化,提前預(yù)警局部過熱風(fēng)險(xiǎn)配備專業(yè)測(cè)溫軟件,發(fā)射率可調(diào),可針對(duì)芯片封裝樹脂、金屬焊球、陶瓷基板等不同熱導(dǎo)材料精準(zhǔn)校準(zhǔn),確保硅基、碳化硅、氮化鎵等全品類芯片檢測(cè)一致性。

 

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格物優(yōu)信顯微熱像儀X640F300UM25拍攝2mm*3mm電容

 

640 17um水印 

格物優(yōu)信顯微熱像儀X640F300UM17拍攝2mm*3mm電容

 

640 8um水印 

格物優(yōu)信顯微熱像儀X640F300UM8拍攝2mm*3mm電容

 

 

微米可測(cè)|見微知著專為微小物體測(cè)溫而生

優(yōu)質(zhì)的探測(cè)器及專業(yè)算法如同一雙“火眼金睛",幫助用戶洞察畫面中的細(xì)微差異,捕捉場(chǎng)景中的細(xì)小溫差,使得被檢測(cè)物體在“熱成像顯微鏡"的視角下纖毫畢現(xiàn)。

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配備科研專用支架實(shí)時(shí)連續(xù)在線監(jiān)測(cè)

針對(duì)被測(cè)物體的微小特性,特配備科研專用支架,針對(duì)實(shí)驗(yàn)對(duì)象就行靜距離實(shí)時(shí)觀測(cè),讓熱成像科學(xué)研究操作更順手,助力科研項(xiàng)目如光纖檢測(cè)、發(fā)熱絲、芯片材料無損檢測(cè)等領(lǐng)域的研究項(xiàng)目順利推進(jìn),我們支持個(gè)性化dingzhi和SDK二次開發(fā),確保用戶在微觀研究中能夠得心應(yīng)手、游刃有余。

 

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更受用戶青睞的顯微熱像儀各大高校單位的選擇

格物優(yōu)信顯微熱像儀X系列已助力多家高校科研單位的熱成像科研項(xiàng)目,如北京大學(xué)材料熱效應(yīng)研究、清華大學(xué)深圳研究院電阻絲監(jiān)測(cè)、浙江大學(xué)激光晶體研究等等,熱像儀成像細(xì)膩清晰、測(cè)溫精準(zhǔn)的特點(diǎn)深受科研用戶的青睞。

 

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拍攝型號(hào)X640D150UM8(顯微)

 

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拍攝型號(hào)X640F615UM8(顯微)

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拍攝型號(hào)X640D150UM8(顯微)

 

高達(dá)百萬紅外像素+顯微鏡頭微小物體測(cè)溫盡顯高清

格物優(yōu)信科研用熱像儀,針對(duì)不同的客戶需求,采用不同分辨率如348*288640*4801280*1024等,可加裝不同焦距的顯微鏡頭,如1280*1024顯微熱像儀4.8μm鏡頭640*512顯微熱像儀17μm鏡頭、640*512顯微熱像儀8μm鏡頭,最高可達(dá)到130萬紅外像素點(diǎn)纖毫畢現(xiàn),即使是小到3微米的物體也能實(shí)現(xiàn)高清熱成像測(cè)溫。

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格物優(yōu)信X1280熱像儀配4.8μm顯微鏡頭紅外圖

 

配備IRStudio科研專用軟件支持曲線分析|逐幀分析|離線分析

IRStudio系統(tǒng)是格物優(yōu)信針對(duì)紅外熱像儀及其衍生產(chǎn)品所開發(fā)的專業(yè)紅外分析軟件。具有強(qiáng)大的錄制和分析功能,可對(duì)紅外數(shù)據(jù)進(jìn)行顯示、記錄、特征分析等,以支持關(guān)鍵決策,滿足用戶在研發(fā)、研究領(lǐng)域中的實(shí)際應(yīng)用需求。

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